La fuente de alimentación Twintex PCL 40V, de alta corriente y alta potencia, cuenta con una arquitectura modular en paralelo. Partiendo de una configuración básica de 40 V y 1 125 A (45 kW), permite una ampliación fluida hasta unos impresionantes 40 V y 4 875 A (195 kW) mediante una sencilla conexión en paralelo. Esta flexibilidad satisface a la perfección los requisitos de potencia, desde la validación en I+D hasta las pruebas de producción a gran escala, lo que la hace especialmente adecuada para pruebas de quemado y de fiabilidad a gran volumen de dispositivos de alta potencia de 30 V a 40 V.
Diseñada específicamente para realizar pruebas en componentes clave como MOSFET, IGBT, módulos de potencia y convertidores CC-CC, esta serie ofrece una salida estable, limpia y de alta intensidad, lo que garantiza el rigor y la eficacia de las pruebas de rodaje y de vida útil.
Para ser más concretos, a continuación se enumeran dos aplicaciones para algunos modelos típicos.
Fuente de alimentación de CC programable de alta corriente, 40 V, 1500 A, 60 kW: PCL40-1500:
- Pruebas de rodaje para dispositivos de alta potencia y módulos de potencia: Se utiliza para realizar pruebas de rodaje a plena carga en componentes como módulos IGBT de alta potencia y módulos de potencia, con el fin de detectar fallos en fases tempranas y garantizar la fiabilidad del producto. La potencia de salida de 60 kW permite alimentar simultáneamente varias unidades sometidas a prueba, lo que aumenta la eficiencia.
- Pruebas de rodaje a gran escala para componentes pasivos y dispositivos activos sencillos: Se necesitan fuentes de alimentación de corriente continua para aplicar tensión durante el proceso de rodaje a gran escala o la regeneración de los condensadores electrolíticos y de tantalio. Las fuentes de alimentación también son necesarias para suministrar corriente de funcionamiento durante las pruebas de rodaje de componentes como resistencias y relés.
Fuente de alimentación de CC programable de alta corriente, 40 V, 3000 A, 120 kW: PCL40-3000:
- Pruebas de límite para dispositivos electrónicos de potencia de alta potencia: Se utiliza para realizar ensayos de picos de corriente extremos, ensayos de resistencia a cortocircuitos y ensayos de rodaje con ciclos de encendido y apagado en dispositivos semiconductores de potencia de última generación —como los IGBT de potencia ultraalta y los MOSFET de SiC— con el fin de verificar su fiabilidad en condiciones extremas.
- Investigación de vanguardia y aplicaciones especializadas: Suministro de energía para imanes de alta potencia o cargas especializadas en la investigación científica de vanguardia, como la física de altas energías, o realización de ensayos de conducción de corriente en cables y sensores especializados, incluidos los cables superconductores y los sensores de alta corriente.








